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公司名称：北京精科智创科技发展有限公司
联系人：谢经理
电话：010-60414386
手机：18210063398
传真：010-60414386
邮件：2822343332@qq.com
地址：北京顺义北小营
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BKTEM-S4型热电赛贝克系数测试仪
产品简介：BKTEM-S4型热电赛贝克系数测试仪热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小，单位是V/K。 近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。 BKTEM-S4型热电赛贝克系数测试仪为了应对一系列挑
价格：面议
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TSC（TSDC）-5000热刺激电流测试仪
产品简介：热刺激理论是在介质物理的基础上发展起来的，研究这一理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较准确地测量出某些物质（如电介质、绝缘材料、半导体、驻极体等）的微观参数，热刺激法是一面对材料升温一面进行测量，即非等温测量。由于材料（例如介电材料）中的荷电粒子的微观参数（如活化能h、松弛时间τ等）不同，用热
价格：面议
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ZKSJD-600型全自动高低温介电温谱仪
产品简介：ZKSJD-600型全自动高低温介电温谱仪是中科院声学所研发的最新一款高低温介电温谱仪用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研
价格：面议
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HTRS-1000型 高温半导体材料电阻率测试仪
产品简介：HTRS-1000型高温半导体材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针
价格：面议
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JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪
产品简介：JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪是一款兼容高温功能的精密阻抗分析仪，是一款能够应用于先进材料测试的多功能复合型精密阻抗分析仪，该阻抗分析仪可以兼容多种高温夹具，可以测试粉末，液体，块体等多种不同类型的样品。常温下测试数据丰富，高温下测试数据稳定，无漂移。是一款兼顾中高端频率的精密阻抗分析仪。在
价格：面议
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GLSR-1000型玻璃熔体电阻率试验仪。
产品简介：GLSR-1000型玻璃熔体电阻率试验仪是一款专用于玻璃熔体电阻测试的设备，采用自动平衡技术，具有交流电压输出功能，频率可调，可测试不同电流及频率下的电阻率数据，加热及温控系统数据稳定，可以设置不同温度及升温速率，是研究玻璃熔体电阻率的重要设备。
价格：面议
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GWJDN-400型2MHZ自动平衡高温介电温谱仪
产品简介：主要功能：材料介电常数测试仪半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性性能特点:温度：RT-1000℃测试频率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz基本精度: 0.05%测试速度:最快5. 6ms/次
价格：面议
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HTRT-1600型超高温导电材料电阻率测试仪
产品简介：HTRT-1600本系统主要由高精度高稳定度的小电流源、高精度AD采样芯片以及嵌入式芯片，上位机智能管理分析软件、真空多段温控加热设备组成的金属电阻率智能存储分析仪器。测试金属样品根据测试工艺要求任意设定加热、降温曲线，通过过程中电阻率的精密测量，完成对金属内部结构变化如相变、碳化物、固溶度等特性的分析。
价格：面议
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高温铁电测试仪hysteresis loop
产品简介：GWTF-300高温铁电材料测量系统是一套建立在高温高压下的铁电测量系统，旨在针对一些特殊的要求材料需要在高温下测量而研发的一套铁电测量系统。该系统不仅仅在温度上将实现了高温测试，而且在电压和频率上进行了提高，对我们的铁电材料研究和测试带来更加重要的帮助，该系统可以测量铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极
价格：面议
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GWJDN-1000B高温介电温谱分析仪
产品简介：GWJDN-1000B高温介电温谱分析仪采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一高温介电温谱分析仪，产品全新的电子器件。.了传统国产仪器复杂繁琐的操作界面。基于Windows10操作系统。实现了全电脑化操作界面。让测试更智能、更简便。
价格：面议
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HTIM-600C 高温电阻率测试仪（提供CNAS计量认证）
产品简介：HTIM-600高温电阻率测试仪是一款针对于材料的测量设备，可以出具CNAS整体认证的专业材料高温测量设备，该仪器采用使用方法多样化，最大2000V，最快6.4ms的采集系统，实现了是以往产品300倍的抗干扰功能最快6.4ms的高速测量
价格：面议
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BMJD-400 薄膜变温低温介电测量系统
产品简介：BMJD-400薄膜低温介电测量系统低温介电测量系统是一款科研级的变温测试设备，应用于低温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析，通过配置不同的测试设备，完成不同参数的测试。广泛应用于陶瓷、薄膜、半导体、食品、生物、制药及其它固体材料的阻抗与介电性能测量。是目前的薄膜低温介电测试系统，是国
价格：面议
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FSR-600材料高温双波段发射率测量系统
产品简介：FSR-600材料双波段发射率测量系统是仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。对红外材料而言,辐射率是它的一个非常重要的特征,在辐射测温，材料科学，红外技术，遥感技术，军事上的目标识别和伪装，表面涂层定量控制以及生物样品分析等领域都有辐射率的问题，该可
价格：面议
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HTMS-1000型高低温方阻测试系统
产品简介：HTMS-1000型高低温方阻测试系统是一款用于测量半导体薄膜和薄片的导电性能的测试系统，产品应用范围广,能够满足导电功能薄膜材料、半导体材料、导电玻璃材料、石墨烯等其它导电材料的测试需求；可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。可以在高温、
价格：面议
