手持式回损仪/回损测量仪型号:DP-3308 产品概述

发布时间：2016-07-04浏览次数：1477返回列表

手持式回损仪/回损测量仪型号:DP-3308

产品概述

DP-3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、光源，并具有数据存储功能。

技术指标

光回损测试

测试波长（nm） 1310/1550

谱宽（nm） <5

显示范围（dB） 6~70

精度（dB） ±0.5

分辨率（dB） 0.01

光功率计

波长范围（nm） 850 ～ 1650

校准波长（nm） 850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625

检测器类型 InGaAs

显示模式 dBm 、dB 、W

显示范围（dBm）－70 ～＋6

大输入功率（dBm）＋6

分辨率（dB） 0.01

精度（dB） 0.3

光源

波长（nm） 1310/1550

谱宽（nm） <5

大输出功率（dBm） -3

稳定度（dB，30min） ± 0.05

调制频率（HZ） CW, 270, 1K, 2K

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