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产品详情

JS705-S2 二探针测试仪

  • 产品/服务:JS705-S2 二探针测试仪
  • 型 号:JS705-S2
  • 品 牌:百万电子
  • 单 价:面议 
  • 更新日期:2024-02-28
  • 有效期至:长期有效
  • 浏览次数:1194
产品简介

二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。...

产品详细介绍
二探针测试仪技 术 指 标 :

 测量范围

 电阻率:10-5~105 Ω.cm;

恒流源

 电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调

数字电压表

 量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
   分辨力:10μV;
   输入阻抗:>1000MΩ;
   精度:±0.1% ;
   显示:四位半红色发光管数字显示;性、超量程自动显示;

二探针探头基本指标

 间距:3mm(可选其它间距);
   针间缘电阻:≥1000MΩ; 
   机械游移率:≤0.3%;
   探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
   探针压力:5~16 牛顿(总力);

二探针探头应用参数

 (见探头附带的合格证)

模拟电阻测量相对误差
  ( 按JJG508-87进行)

  0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字

测试架

 配置T-2A测试架,两端电Ф8mm~20mm(可选其他尺寸订做)

计算机通讯接口

 并口

标准使用环境

   温度:23±2℃;
   相对湿度:≤65%;
   无高频干扰;
   无强光直射;


二探针测试仪概述:

是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。
  仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

 

二探针测试仪 仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。   本仪器适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。





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