二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。...
测量范围 |
电阻率:10-5~105 Ω.cm; |
恒流源 |
电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调 |
数字电压表 |
量程及表示形式:000.00~199.99mV; |
二探针探头基本指标 |
间距:3mm(可选其它间距); |
二探针探头应用参数 |
(见探头附带的合格证) |
模拟电阻测量相对误差 |
0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
测试架 |
配置T-2A测试架,两端电Ф8mm~20mm(可选其他尺寸订做) |
计算机通讯接口 |
并口 |
标准使用环境 |
温度:23±2℃; |
是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。
仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
二探针测试仪 仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。 本仪器适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
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