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X射线测厚仪

深圳市创思达科技有限公司

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价格：电议

所在地：广东深圳市

型号：

更新时间：2011-01-17

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产品简介

使用X荧光射线可以非接触非破坏快速分析膜厚＊兼容Microsoft Windows操作系统之软件＊可测单层, 多层 1-6层, 合金厚度及比例＊药水

公司简介

深圳市创思达科技有限公司是一家以销售实验室品质检测仪器为主营业务，专业从事电子电路行业的测试仪器、试验设备及辅助材料销售的企业。主要销售产品：X射线测厚仪、膜厚仪、金属镀层测厚仪、XRF-2000、镀层标准片、膜厚标准片、UPA、孔内镀铜测厚仪、PTH孔铜测厚仪、milum、mm610、铜箔测厚仪、mm125、面铜测厚仪、mm615、mm805、美国禾威Walchem控制器、镀铜/蚀铜控制器、沉铜控制器、WCU410-5N2N、化镍控制器、WNI410-5N1N、PH/ORP控制器、WPH410-5N1N、电导率控制器、WEC410-5NPN、铜箔剥离强度测试仪、凝胶固化时间测试仪、板厚测量仪、树脂流动性测试系统、Iwaki、计量泵

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产品说明

使用X荧光射线可以非接触非破坏快速分析膜厚

＊兼容Microsoft Windows操作系统之软件

＊可测单层, 多层 1-6层, 合金厚度及比例

＊药水分析功能.

＊拥有多种 Filter 选择性

＊定点自动定位分析

＊光径对准全自动化

＊自动显示量测参数

＊ 2D/3D, 任意位置量测控制

＊雷射对焦与自动定位系统

＊温控稳定延长校准时效

＊ 20X 倍放大摄影系统.

＊ X-ray运作待命睡眠控制

＊全进口美日系零件价格优势以及快速服务时效

＊彩色区别量测数据,多重统计显示窗口与报告编辑应用

本页产品地址：http://www.yi7.com/sell/show-78005.html

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