V-Sorb 2800P-静态法 孔径分析仪

F-Sorb X400系列4站比表面积测试及介孔径分布孔容孔隙率测量仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的产品,08年和09年国内市场销量第一,众多著名科研院所及500强企业应用案例. V-Sorb 2800 Series系列全自动智能比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
北京金埃谱科技是北京市高新技术企业,位于我国著名的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有知名品牌为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴国外先进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与国际产品接轨,高可靠性,高性价比的一流科研设备.目前主要产品有V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪,F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.
秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,并适应新形势下市场发展需求,倡导和坚持"技术为先,服务为本"的发展理念,我们为客户不仅仅提供高质量的产品,同时更注重高效的服务.公司拥有深谙业内需求,了解国际先进技术的研发团队及跨行业技术咨询专家,为研发具有国际先进水平产品提供强大的技术支持.目前已建立起严格的产品质量保证和完善的售后服务体系,确保产品符合国际标准,服务更具本地特色,使V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪和F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.两大系列产品品牌和公司信誉得到了客户的高度认可和普遍赞誉,在同行业中处于领先地位.

V-Sorb 2800P静态法固体颗粒孔径分析仪应用领域

1) 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3) 高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4) 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作.

V-Sorb 2800P静态法固体颗粒孔径分析仪详解

V-Sorb 2800P静态法固体颗粒孔径分析仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理,众多科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模zui大,通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

V-Sorb 2800P静态法固体颗粒孔径分析仪性能参数

孔径分析仪测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);

测量精度:重复性误差小于1.5%;

孔径分析仪真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

孔径分析仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

孔径分析仪压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％);

孔径分析仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;

极限真空:4x10－2Pa(3x10－4Torr);

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

孔径分析仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

孔径分析仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
========================================================================================================================================
"探索颗粒世界，我们助您做的更好" 更多的容量静态法固体颗粒孔径分析仪技术及产品信息,敬请参阅我们的网站
========================================================================================================================================