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价格:电议
所在地:北京
型号:SN/RTS-3
更新时间:2021-06-11
浏览次数:1322
公司地址:北京市朝阳区三间房西柳村中街
高经理(女士)
型号:SN/RTS-3
北京手持式四探针测试仪体积小,精度高,测量范围宽,运用四探针原理能够测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻。
北京手持式四探针测试仪技术参数:
测量范围 |
电阻率:0.01~1999.9Ω.cm; |
恒流源 |
电流量程分为100μA、1mA两档,两档电流连续可调 |
数字电压表 |
量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; |
四探针探头基本指标 |
间距:1±0.01mm; 针间缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%; |
四探针探头应用参数 |
(见探头附带的合格证) |
模拟电阻测量相对误差 |
1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
整机测量zui大相对误差 |
(用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5% |
整机测量标准不确定度 |
≤5% |
外型尺寸 |
185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高) |
重量 |
350g |
电源 |
锂电池,一次充电可连续使用100小时; |
标准使用环境 |
温度:23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无高频干扰; 无强光直射 |
适用场所:
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。