美国CID CI-600植物根系生长监测系统

美国CID CI-600植物根系生长监测系统
CID公司在全世界一个独创性地推出了“土壤洞穴全方位(360度)多层次旋转式扫描，获取直观1:1不变形根系剖面图像的方法”，即CI-600的方法，从而解决了历史上，植物根系及根系生长动态观测劳作繁重或者设备复杂庞大，难以广泛设点观察，特别是完成非破坏性的连续观测的老大难问题。该方法改进了原有的根管窥镜摄像只能得到局部变形图像的方法，为科研工作者提供了很方便的根系研究工具，它的出现将大大推动根系研究的进展。
用途与适用范围
　　• 可用于测量根系剖面图上的根系分布参数
　　• 可以分析根系生长速度和生长方向
　　• 可以观察土壤剖面层的物理特性、质地、分层和水分动态
　　• 适用于生态、农林、园艺、育种、耕作、栽培、灌溉、土壤等研究
　　 领域
　　• 适用于农业工程建设中，尤其是堤坝等建设中，有关土层状况的观
　　 察

• 非破坏性的(无需将根系由土中取出)观测
　　• 可定点、连续观测任意深度根系的发育和生长动态
　　• 可在田间埋设多个透明管，进行多点、快速观测，每点观测时间不超过5分钟(按1m深土层计算)
　　• 360度旋转扫描，一次形成1：1不变形大幅度、高分辨率、极清晰的平面图像，克服了窥镜(摄像)法的图像变形问题
　　• 多层次图片拼接可获得完整的植物根系垂直分布图
•专业的根系分析软件，不仅能分析所获图象的根系参数，同时可用于离体根系的图象分析
　　• 分析精度可达到1200个dpi，即每毫米有95象素点，即分辨精细度约为10μm，可以满足根毛的分析

• 透明根管：外径φ=6.9cm，内径6.4cm，标配长度为183cm(长度可以定制)
• 扫描器尺寸： 35cm长×6.4cm直径
• 图像尺寸：一次扫描图像21.59cm×19.56cm。标配根管内，进行８次扫描可拼接成约1.7m×0.2m的大型根系剖面图
• 扫描类型：彩色和黑白
• 扫描原型：CIS
• 光源：三色光RGB LEDs
• 扫描时间：5～15秒(根据计算机和扫描分辨率而定)
• zui大分辨率：光学分辨率：1200dpi；内插分辨率：9200×9600dpi
　　　　　　　硬件分辨率：1200×2400 dpi
• 扫描模式：彩色48bit内/48bit外，灰色16bit内/16bit外
• 图像传输：高速USB2.0接口
• 电源：笔记本计算机电池
• 手持扫描器重量：约1kg(不含计算机)

北京东方安诺生化科技有限公司
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