薄膜测厚仪产品简介:
台式薄膜测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度测量。
薄膜测厚仪执行标准:
台式薄膜测厚仪GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS4817
薄膜测厚仪产品特点:
1.微电脑控制、液晶显示。
2.菜单式界面、PVC操作面板。
3.接触式测量。
4.测头自动升降。
5.自动进样。
6.台式薄膜测厚仪有手动、自动双重测量模式。
7.数据实时显示、自动统计。
8.显示大值、小值、平均值和统计偏差。
9.可设进样步距、测量点数、进样速度等参数。
10.标准接触面积、测量压力（非标可选）。
11.显示大值、小值、平均值和统计偏差。
12.标准量块标定。
13.RS232接口。
14.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输。
薄膜测厚仪指标:
测量范围:0～2mm；0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率:0.1μm
测量压力:17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积:50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
进样步距:0～1000mm
进样速度:0.1～99.9mm/s
电        源:AC220V 50Hz
外形尺寸:461×334×357mm
净        重:32kg
薄膜测厚仪标准配置:主机、标准量块一件
SJL-GCHY-CA薄膜测厚仪_台式薄膜测厚仪选购件:软件、通信电缆、测量头、配重砝码
薄膜测厚仪备注:薄膜、纸张任选一种；非标可定制。