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便携式电阻测度仪按照半导体材料电阻率的及标准测试方法有关规定设计。
发布时间:2017-12-11浏览次数:1684返回列表
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的及标准测试方法有关规定设计。
它主要由电器测量部份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架。
为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1~100Ω·cm标准样片的测量误差不超过±5%,在此范围内达到标准二级机的水平。
2、测试仪结构及原理
测试主机由主机板、前面板、后背板及机箱组成,数字表、测试电流换档开关、电阻率/方阻转换开关、校准/测量变换开关以及电流调节电位器均装在前面板上。后背板上只装有电源插座、电源开关、保险管及四探针连接插座。机箱底板上字装了主机板。前后面板与主机板之间的联接均采用接插件,便于拆卸维修。