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电阻测试仪可用于测量一般半导体材料、导电薄膜

发布时间：2018-12-26浏览次数：1562返回列表

电阻测试仪型号：GSZ-ST-21

方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

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