数字式四探针测试仪  型号：SZB-SX1934

产品特点
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。
仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。

测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω
可测晶片直径（Z大） φ100mm(标配)，方形230×220mm(Z大)
Z大电阻测量误差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数±2个字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
仪器重量 电气主机：约4kg   测试台：约5kg
测试环境 温度：23±2℃ 相对湿度：≤65％； 无高频干扰 无强光照射
电源 220V±10%(50Hz) 功耗≤35W
备注 具备电脑接口