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低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 MCP-T370
发布时间：2014-03-21浏览次数：1711返回列表
低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 型号:MCP-T370
四探针方案-一触式的材料的表面电阻率测量。
查找只需按下启动按钮，确认自动测量功能，可自动保持当前的测量值。
电池寿命可以采用镍氢电池组可以方便地替换。
新增探头校准模式。检查探头校准片（另售），以确认Roresuta AX测试值的性。
测量数据可以导出到USB存储器。
 规格 |
|
| 测量方法 | 四端四探针法 施加恒定电流的方法 |
| 测量范围 | 10 -2〜10 6 Ω |
| 标准配置 | 四探针探头（ASP）AC适配器 说明书 检查确认书 |
| 选项 |
 探头选项 |
||
| 类型 | 适用被测试样品 | 型号 |
| ESP | 对于异类样本 | MCP - TP08P |
| PSP | 小样本的薄膜 | MCP - TP06P |
| QPP | 对于小样本 | MCP - TPQPP |
| TFP | 有关硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
 校准块 |
型号：MCP - TRF1 |
