Morphologi G3 颗粒形态表征系统

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统是满足您上述需求的分析工具。此系统将高质量图像和具有统计意义的颗粒形状、大小测量方

英国马尔文仪器有限公司是激光粒度分析仪的发明人，世界最著名的激光粒度仪专业生产厂家，其产品分布于石化、石油、陶瓷、粉体、涂料、制药、水泥、军工等各个领域，占有世界绝大部分激光粒度仪市场。许多领域指定要用该仪器进行质量检测和控制。

英国马尔文仪器有限公司成立于1963年，位于英国知识密度最高的马尔文城。公司前身是英国国防工业实验室。1970年制造出世界第一台商用激光粒度分析仪并成立公司，随后生产出世界上第一台激光PCS纳米粒度及Zeta电位分析仪，第一台超声粒度分析仪，成为举世公认的激光粒度分析技术的先锋及行业标准

马尔文仪器公司还是世界领先的专业流变仪制造商,是目前世界上唯一能同时生产高性能旋转流变仪和毛细管流变仪的公司.马尔文公司在上海建立了中国流变应用支持中心,拥有庞大的大学,科研院所,政府实验室和跨国公司等工业用户群体.

马尔文公司十分注重技术开发，技术创新,并不断进取,获得的主要技术奖项包括：

1977 IEE McRobert 杰出技术创新奖
1977 英国女王技术贡献奖
1981 英国女王出口贡献奖
1987 TASC分析仪器奖
1988 英国女王技术贡献奖
1988 英国女王出口贡献奖

1993 工程安全工作者奖
1994 英国安全委员会奖
…………
2003 IBO分析及生化仪器设计奖
2003 Zetasizer Nano获得工业设计金奖
2006 英国女王企业国际贸易奖
2008 Morhologi G3获得Instrument Business Outlook分析仪
器行业设计金奖

目前，马尔文公司在全球有多个分公司，用户遍及世界86个国家和地区，销售量占世界第一，中国第一,并已获得ISO9001标准认证、欧洲EMC标准认证、GMP标准认证，其激光衍射法粒度分析仪完全通过了强大的美国FDA的QSpec认证，是唯一通过所有认证的粒度仪。

马尔文全心致力于激光粒度仪的完美及提高，不断推出新产品。其MASTERSIZER系列（MS Micro, MS S, MS 2000）激光粒度分析仪, Zetasizer Nano系列高性能纳米粒度和Zeta电位分析仪，及最新推出的Kinexues超级旋转流变仪等等集中体现了当今科技发展的最新成果，一问世立即得到科技界的高度评价和用户的广泛欢迎，被认为代表了21世纪的发展趋势和方向。

马尔文在中国的用户以每年20%以上的速度增长。为了给用户最大的应用支持，马尔文公司在网上开通了多媒体教学课程，在总部设有HelpDesk,保证及时回复用户疑问，在中国设有应用实验室和技术服务中心，并有专家巡回中国为用户服务。我们相信，作为粒度表征和流变测量技术的领航者，马尔文公司的产品必将为我国高新技术的发展起到积极的推动作用。

作为思百吉集团成员,马尔文仪器（中国）共有4个办事处,总部位于上海,其他办事处包括北京,广州和成都.作为亚太区技术中心的上海总部内建有200多平方米的实验室,完善的实验室设备可以提供客户售前测样,及其售后培训的配套服务与优良的技术支持.位于北京的办事处同样配备实验室为客户提供完善服务.

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统是满足您上述需求的新型分析工具。此系统将高质量图像和具有统计意义的颗粒形状、大小测量方法组合在一起。

我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统功能强大且直观的数据分析工具，可确保您从测量数据中获得丰富的结果。

颗粒大小： Morphologi G3 使用不同的放大倍数确保对整个颗粒大小范围 (0.5?m – 3000?m) 的高分辨率，可使用圆当量直径参数精确测量颗粒大小。
  颗粒形状：可计算各种颗粒形状参数，例如延伸度、圆度和凸起度等。这些参数可识别和量化样本间的细微差别，而那些只能测量颗粒大小的技术则无法识别这些不同。
  颗粒数量和杂质颗粒检测：实际上，样本中的所有颗粒都可以被单独测量并记录，这使得图像分析系统能够出于某些目的(例如颗粒杂质检测)计算某类颗粒的数量。

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统简介：

完全集成的干粉分散剂： 我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。
  统计意义： 只需单击一下鼠标，便可分析成千上万的颗粒！
  消除用户偏差：标准操作程序 (SOP) 方法可客观地记录和控制所有仪器参数(例如，焦距、光线强度、放大倍数)。在一台仪器上开发的方法可通过单一电子文件进行全局传送。
  保存高质量图像： 对每个单一颗粒图像都能进行观察和记录，从而可目视验证破裂颗粒、凝聚物、精细颗粒和杂质颗粒等的存在。
  精确、可重复和“可验证”：为确保数据的一致性，图像分析系统在每次颗粒分析前后，都要使用 NPL(National Physical Laboratory，英国国家物理研究所)的多段光栅可跟踪技术进行自动校准。此图像分析仪符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可提供完整的 IQ/OQ(安装认证/操作认证)文档。

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