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V-Sorb 2800 比表面及孔体积测试仪

金埃谱(北京)科技有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:北京

型号:V-Sorb 2800

更新时间:2012-01-04

浏览次数:1352

公司地址:北京市海淀区知春路56号中航科技大厦8层

陈世野(先生)  

产品简介

V-Sorb 2800静态容量法比表面及孔体积测试仪功能概述比表面及孔体积测试仪采用与国外知名品牌产品一致的原理和结构设计,选用相同

公司简介

F-Sorb X400系列4站比表面积测试及介孔径分布孔容孔隙率测量仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的产品,08年和09年国内市场销量第一,众多著名科研院所及500强企业应用案例. V-Sorb 2800 Series系列全自动智能比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
北京金埃谱科技是北京市高新技术企业,位于我国著名的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有知名品牌为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴国外先进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与国际产品接轨,高可靠性,高性价比的一流科研设备.目前主要产品有V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪,F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.
秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,并适应新形势下市场发展需求,倡导和坚持"技术为先,服务为本"的发展理念,我们为客户不仅仅提供高质量的产品,同时更注重高效的服务.公司拥有深谙业内需求,了解国际先进技术的研发团队及跨行业技术咨询专家,为研发具有国际先进水平产品提供强大的技术支持.目前已建立起严格的产品质量保证和完善的售后服务体系,确保产品符合国际标准,服务更具本地特色,使V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪和F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.两大系列产品品牌和公司信誉得到了客户的高度认可和普遍赞誉,在同行业中处于领先地位.

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产品说明

V-Sorb 2800静态容量法比表面及孔体积测试仪功能概述

比表面及孔体积测试仪采用与国外知名品牌产品一致的原理和结构设计,选用相同的进口核心部件,确保测试结果的准确性和可比性,提高仪器长期使用的稳定可靠性;

多项的采用,实现测试过程完全自动化和智能化,可实现夜间无人值守式自动处理和测试样品,大大降低测试人员的工作量,提高仪器使用效率;

比表面及孔体积测试仪国内采用一体化集装式真空系统产品,显著减少管路连接点,大大降低系统漏气率,提高极限真空度;

国内率先实现单台仪器上实现多样品测试和多样品处理同时进行,克服静态容量法测试效率低的缺点,提高产品性价比;

比表面及孔体积测试仪独创的交换式冲抽气方式,有效控制冲抽气速率,彻底解决样品飞溅问题,消除测试期间样品管路污染及堵塞等隐患;

测试软件完全自主开发,功能完善,操作界面简洁,集成PID温度调节功能于软件功能模块中,实现样品处理的完全自动化和智能化.

V-Sorb 2800静态容量法比表面及孔体积测试仪特点

A.比表面测试仪(孔体积测试仪)真空系统

1)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;

2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换;

3)采用德国进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10-2Pa(3x10-4Torr);

B.比表面测试仪(孔体积测试仪)控制系统

1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;

2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染;

C.比表面测试仪(孔体积测试仪)提高测试精度措施

1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15%,远远优于0.15%的全量程精度(FS)传感器;

2)与国外同类产品类似,采用0-10Torr(可选)和0-1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0-10Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15%);

3)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;

4)独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移;

D.比表面测试仪(孔体积测试仪)数据采集及处理

1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.

V-Sorb 2800静态容量法比表面及孔体积测试仪应用领域

1) 超微粉体,纳米材料,颗粒及纤维状材料比表面积分析测定;
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测;
3) 高校及科研单位材料研究测试,吸附科学及BET理论教学实验;
4) 电池材料,催化剂,添加剂,吸附剂,陶瓷烧结材料,磁性材料,储能材料等相关性能测定;
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作.
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