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膜厚标准片

深圳市创思达科技有限公司

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所在地：广东深圳市

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更新时间：2011-01-17

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产品简介

美国UPA X-RAY镀层膜厚测试仪标准片测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.

公司简介

深圳市创思达科技有限公司是一家以销售实验室品质检测仪器为主营业务，专业从事电子电路行业的测试仪器、试验设备及辅助材料销售的企业。主要销售产品：X射线测厚仪、膜厚仪、金属镀层测厚仪、XRF-2000、镀层标准片、膜厚标准片、UPA、孔内镀铜测厚仪、PTH孔铜测厚仪、milum、mm610、铜箔测厚仪、mm125、面铜测厚仪、mm615、mm805、美国禾威Walchem控制器、镀铜/蚀铜控制器、沉铜控制器、WCU410-5N2N、化镍控制器、WNI410-5N1N、PH/ORP控制器、WPH410-5N1N、电导率控制器、WEC410-5NPN、铜箔剥离强度测试仪、凝胶固化时间测试仪、板厚测量仪、树脂流动性测试系统、Iwaki、计量泵

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产品说明

美国UPA X-RAY镀层膜厚测试仪标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。

如:单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/xx.

我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.

本页产品地址：http://www.yi7.com/sell/show-77959.html

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