- 产品/服务:MHY-05088 手持式四探针测试仪
- 型 号:MHY-05088
- 品 牌:北京美华仪
- 单 价:面议
- 更新日期:2024-01-16
- 有效期至:长期有效
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手持式四探针测试仪 型号:MHY-05088是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。...
手持式四探针测试仪/四探针电阻率仪/方阻仪 型号:MHY-05088
概述
MHY-05088 型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。
成套组成:由MHY-05088 主机、选配的四探针探头等二分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入;具有零位、满度自校能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
手持式四探针测试仪具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本术参数1. 测量范围、分辨率
电 阻: 0.010 ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω
电 阻 率: 0.010~ 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 ~ 10 Ω-cm
方块电阻: 0.050~ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
直 径:DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。
DP-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长()度:测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等
量程(Ω-cm/□) 2.000 20.00 200.0 2.000k 20.00k
电阻测试范围 0.010~2.200 2.000~22.00 20.00~220.0 0.200~2.200k 2.000~50.00k
电阻率/方阻 0.010/0.050~2.200 2.000~22.00 20.00~220.0 0.200~2.200k 2.000~20.00k
基本误差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB
4) 适配器作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净 重:≤0.3kg
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