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产品详情

一体大量程涂层测厚仪

  • 产品/服务:一体大量程涂层测厚仪
  • 型 号:RR64-leeb253
  • 单 价:面议 
  • 更新日期:2018-03-20
  • 有效期至:长期有效
  • 浏览次数:945
产品简介

leeb253磁性测厚仪|漆膜测厚仪是一种小型测量仪,它能快速、无损伤、地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量;用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。...

产品详细介绍
 leeb253磁性测厚仪|漆膜测厚仪是一种小型测量仪,它能快速、无损伤、地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量;用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
符合以下标准:
GB/T 4956─1985 磁性方法;
JJG 818-95 《磁阻法测厚仪》;
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。
功能与特点
采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性;
覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等);
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);
具有米、英制转换功能;
具有欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能;
具有自动关机功能。
技术参数
测头类型:F;
测量原理:磁感应;
测量范围: 0-6000um;
低限分辨力:1μm(10um以下为0.1um);
探头连接方式:一体化;
示值误差:
一点校准(um):±[3%H+1];
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1];
测量条件:
zui小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9;
基体zui小面积的直径(mm):ф7;
zui小临界厚度(mm):0.5;
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH;
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);
测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
上下限设置:无;
关机方式:自动;
电源:二节3.6V镍镉电池;
外形尺寸:150×55.5×23mm;
重量:150g。

一体磁性,0-6000um,一个按键


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