平面平晶简单的说就是：光在平晶表面反射和被测表面反射回来的光线形成干涉现象。由于被测表面平面度的影响，干涉光线的光程差不同，因此形成干涉条纹。通过测量干涉条纹的弯曲量并计算可得被测样品的平面度。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。

  平面平晶工作原理：

  是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。

  测量时，先使平晶边缘轻轻地与被测表面接触，逐渐使整个表面接触，再调整平晶使与被测表面之间保持一微小夹角，直到出现清晰的干涉条纹为止。如干涉条纹很密而调整平晶位置又不能使干涉条纹的间距加宽，则说明被测表面或平晶上有微尘或其他杂物，应清洗。

  平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定的平面零件，例如，平面光学零件、平台、平板、导轨、密封件等。