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双电四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。根据不同材料特性需要，配有多款测试探头：
1、配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻；
2、专用探头可测试电池片等箔上涂层电阻率/方阻。
3、高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
4、球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；
使用双电四探针测试仪时须特别留意的要点：
1、安装时铜片及缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝。
2、操作时先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接。
3、使用时特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。
4、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象。
5、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针。
6、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作。
7、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量。