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四探针电阻测试仪主机采用电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。本仪器电压档为自动调整,电流档为半自动.不清楚被测物体阻值时,可按菜单先选择100MA电流档进行自动搜索(电流可由高至低自动搜索,不能由低向高搜索),当选择好电流档后,电压会自动进行调整。关于四探针电阻测试仪，您需要知道这些：
 1、电阻率与方阻的概念 
电阻率：当某种材料截成正方体时，平行对面间的电阻值只与材料的类别有关，而与正方形边长无关，这种单位体积的阻值可以反映材料的导电特性，称为电阻率（体电阻率），记为：ρ，标准单位：Ω-m，常用单位Ω-cm
方块电阻：薄膜类导体、半导体材料截成薄层正方形时，平行对边间的电阻值只与材料的类别（电阻率）和厚度有关，而与正方形边长无关，这种单位面积的对边间的电阻值可反映薄膜的导电特性和厚度信息，称为方块电阻，简称方阻。记为：R □，标准单位：Ω/□
2、测试相关标准
（1）GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
（2）SJT 10314-1992《直流四探针电阻率测试仪通用技术条件》
3、测试应用范围
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。根据不同材料特性需要，配有多款测试探头：
（1）高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
（2）球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；
（3）配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻；
（4）专用探头可测试电池片等箔上涂层电阻率/方阻。