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宁波瑞柯微智能科技有限公司

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粉末堆密度仪,粉体和颗粒特性测定仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,粉末电阻率测试仪,安息角测定仪,休止角测试仪,粉体松装密度测定仪,粉末振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,粉末电导率测试仪,堆积密度测定仪,粉体特性综合测试仪,粉末流动性测试仪,表观密度测定仪,密度计,体积密度测定仪,比重计,粉末真密度仪,粉体和颗粒性状分析仪,粉末综合测量,粉末剪切测试仪,粉末摩擦特性测试仪,jenike剪切试验仪 电压降测试仪,接触压降测试仪,端子电压降测量仪,线束电压降检测仪 表面电阻率测试仪,导体电阻率测试仪,四探针测试仪,电导率测试仪,方阻测试仪,粉末电阻仪,半导体电阻率测试仪,体积电阻率测试仪,表面和体积电阻测试仪,高温电阻测试系统,双电测四探针方阻/电阻率测试仪

全部分类

粉体/粉末/颗粒分析仪器

导电/绝缘材料电阻率测试仪系列

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FT-361 四探针电导率测试仪
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产品/服务: 浏览次数:1665四探针电导率测试仪 
型 号: FT-361 
品 牌: ROOKO瑞柯微 
单 价: 面议  询价
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
更新日期: 2024-04-18  有效期至:长期有效
产品简介: 四探针电导率测试仪 本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,zui小可以测试到1uΩ方阻值,是目前同行业中能测量到的zui小值,采用AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校...


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详细信息
四探针电导率测试仪

本仪器采用AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。


四探针电导率测试仪
本仪器液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.

二、广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等


四探针电导率测试仪
三、参数资料

1.方块电阻范围:10-6~2×102Ω/□

2.电阻率范围:10-7~2×103Ω-cm

3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100µA.

4.电流精度:±0.1%读数

5.电阻精度:≤0.3%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台

11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针









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