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公司名称:深圳市深东金仪器有限公司
联系人:梁经理
电话:0755-33217630 33217631
手机:13530851851
传真:0755-33217631
邮件:1173597030@qq.com
地址:广东深圳市龙岗区南湾街道下李朗社区平吉大道9号华熠大厦A区1211
Chroma 11050-30M,致茂11050-30M:Chroma 11050 series 高频LCR表为一提供被动元件量测 评估解决方案,兼具与快速两大特色的 测试仪器。量测项目涵盖电感、电容、电阻、 品质因素、损耗因素等各种被动元件测试所需的 主、副参数。...
主要特色:
- 测试参数: L/C/R/Z/Y/DCR/Q/D/ θ
-
测试频率:
75kHz ~ 30MHz (11050-30M)
1kHz ~ 10MHz (11050)
60Hz ~ 5MHz (11050-5M) - 测试电压: 10mV ~ 5V
- 基本准确度: 0.1%
- 7ms 快速量测
- 3 种输出阻抗模式
- 测试讯号监测功能
- 比较与分类选别功能
- 开短路与载入补偿功能
- 量测、显示单元分离式设计
- 标准的Handler、RS-232C、USB储存与外部重迭电流控制介面
- 可选购GPIB或LAN介面
Chroma 11050 series 高频LCR表为一提供被动元件量测 评估解决方案,兼具与快速两大特色的 测试仪器。量测项目涵盖电感、电容、电阻、 品质因素、损耗因素等各种被动元件测试所需的 主、副参数。从 75kHz~30MHz/1kHz~10MHz/60Hz~5MHz 的宽广测试频率 范围,适合分析被动元件于不同频率下的特性。 0.1%的基本量测准确度,让量测结果不只是呈 现高稳定性,还具备高可靠性。只需 7ms 的快速量测,可搭配自动化机台,有效率地大幅提高 产量。
Chroma 11050 series 除了具备Chroma LCR表一贯的优 异量测性能之外,也继承了各种便利的功能设 计。三种不同的输出阻抗模式,满足使用者对于 量测结果与其他仪器的匹配需求。弹性的显示位 数设定,可依使用者对于量测解析度的需求,调 整成适合的显示方式。测试讯号的监测功能,可 以即时观察待测物上实际承载的电压与电流大 小。触发延迟、量测延迟与平均次数等时序设 定,让量测能紧密配合自动化机台动作,并在有 限的量测时间内取得的量测结果。
Chroma 11050 series 在外型结构上采单元分离式设 计,利用双CPU分别处理量测与显示,不但能提 高量测的速度,应用于自动化机台上时也能够缩 短测试线的长度,强化高频量测的度。
Chroma 11050 series 的另一大特色是完善的介面配 置。标准配备的介面包含了可供软硬体设定量测 条件、触发量测动作、判定量测结果与搜集量测 数据的Handler与RS-232C介面,与可储存仪器设 定的USB储存介面、可直接控制Chroma直流重迭 电源输出的外部重迭电流介面。选购配备的部分 则可依使用者在软体通讯上的需求,选购GPIB或 LAN介面。
功率电感由于携带型电子通讯产品薄型化与低功 耗的设计取向,测试频率逐渐提高,连带使元 件的等效串联电阻值成为影响产品优劣的重要指 标。缓冲电容扮演决定整体电路信赖性的重要角 色,为了能在频繁承载瞬态高压的环境下持续正 常工作,必须于高频时仍保持低的等效串联电 阻值。因此Chroma 11050 series 在设计开发时特别关注被动元件在高频领域的测试应用,以贴近使用 者的实际需求,提升关键的量测功能。其于低阻 抗量测的准确度强化,可大幅强化其在高频量测 应用的实用性。
Chroma 11050 series 藉由性的设计考量与重点式 的功能强化,不论是在产品特性研发分析、自动 化产线快速测试或是各式零件进出料管理,都是 的解决方案。
Chroma 11050-30M,致茂11050-30M:Model |
Des |
|
---|---|---|
11050 series | 高频 LCR 表 | |
11050 | 高频 LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高频 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高频 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端SMD测试盒 | |
A110211 | 测试治具(DIP) | |
A110234 | 高频测试仪线 | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) | |
四端测试盒:
测试治具(DIP):
高频测试线(1米):
High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m):
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