天瑞镀层测厚仪thick800A仪器性能及技术参数

如需详细了解或测样比对请联系，天瑞仪器 李经理 ：

型号：800a

原理：X射线荧光光谱仪

生产厂商：skyray

天瑞800A镀层测厚仪

性能特点：

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

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详细配置信息：

硬件：主机壹台，含下列主要部件：

(1) X光管 (2) Si-PIN电制冷半导体探测器

(3) 信号检测电子电路 (4) 二维移动平台

(5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源

(7) 开放式样品腔 (8）双激光定位装置

(9) 铅玻璃屏蔽罩

软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

技术指标：

1.1 分析元素范围：K-U

1.2 同时可分析多达5层镀层

1.3 分析厚度检出限高达0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5 测量时间：5s-300s

1.6 计数率：0-8000cps

1.7 Z轴升降范围：0-140mm

1.8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

工作环境要求：

2.1 环境温度要求：15℃-30℃

2.2 环境相对湿度：<70%

2.3 工作电源：交流220±5V

2.4 周围不能有强电磁干扰。

天瑞800A镀层测厚仪

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