X荧光贵金属检测仪性能

超高分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。

超高度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，总体提高系统处理能力，计数率大可达8万，比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

超清晰摄像头，定位：
采用工业级相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。

小准直器，轻松实现精小部位测试：
提供多种准直器，直径小达0.2mm，可轻松实现精小部位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。

一键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的完整使用，只需一键操作即可智能化自动匹配曲线，操作一步到位。