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能量色散X射线荧光镀层测厚仪工作原理

发布时间:2017-08-10浏览次数:1848返回列表

能量色散X射线荧光镀层测厚仪工作原理

使用能量色散X射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。