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X荧光镀层测厚仪工作原理是什么

发布时间：2017-08-30浏览次数：1706返回列表

X荧光镀层测厚仪工作原理是什么


原理：通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。

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