ICP发射光谱仪优异的分析特性

1、ICP光谱仪分析法先是一种发射光谱分析方法，可以多元素同时测定。不论是多道直读还是单道扫描仪器，均可以在同一试样溶液中同时测定大量元素(30--50个，甚至更多)。已有文献报导的分析元素可达78个，即除氩以外的所有元素，自然界存在的所有元素，都已有用ICP发射光谱仪法测定的报告。而在实际应用上，并非所有元素都能方便地使用ICP-AES法进行测定，仍有些元素的测定采用其他分析手段更为有效，尽管如此ICP光谱仪分析法仍是元素分析为有效的方法。

2、线性分析范围宽。分析物在温度较低的中间通道内电离和激发，由于外围温度高，这就消除了一般发射光谱法的自吸现象。在一定高浓度(一般元素数百μg／mL溶液浓度)范围内，其工作曲线仍能保持直线；而低含量(0.0Xμg/mL以下)由于检出限低，又可使工作曲线向下延长。因此，工作曲线的直线范围可达5～6个数量级，待测元素的质量浓度在1000μg/L以下一般都能呈良好的线性关系。对于ICP直读光谱法，主量、低量和痕量元素可同时进行分析。

3、ICP光谱仪分析法具有较高的蒸发、原子化和激发能力，干扰水平比较低。由于等离子体光源的异常高温，可以避免一般分析方法的化学干扰、基体干扰，与其他光谱分析方法相比，干扰水平比较低。等离子体焰矩的温度比一般化学火焰更高，能使一般化学火焰难以激发的元素原子化、激发，所以有利于难激发元素的测定。而且Ar气氛中不易生成难熔的金属氧化物，从而使基体效应和共存元素的影响变得不明显。ICP光源的自吸现象很低，校正曲线的线性范围可达5--6个数量级，在大多数情况下，元素浓度与测量信号呈简单的线性。因此在许多情况下可用人工配制的校准溶液。在一定条件下，可以减少参比样品严格匹配的麻烦，一般亦可不用内标法。Ar-ICP光源电离干扰小，即使分析样品中存在容易电离的K或Na，参比样品也不用匹配K或Na的成分。而火焰原子吸收光谱法，在分析Na时，需要添加大量的K来抑制Na的电离干扰。低的干扰水平和高的分析准确度，是ICP光谱法主要的优点之一。既可测低浓度成分，又可同时测高浓度成分，是充分发挥ICP光谱仪分析多元素同时测定能力的一个非常有价值的分析特性。