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X荧光测厚仪了解
发布时间:2017-12-18浏览次数:1703返回列表
X荧光测厚仪了解
X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪,主要用于测量金属电镀层的厚度。
X荧光镀层测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
X荧光测厚仪的特点:
*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的创功能
*机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的结果
*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心
X荧光测厚仪应用范围:
*合金分析
*镀层厚度分析
*电镀液金属离子分析
*磁性介质和半导体元素分析
*土壤污染元素分析
*过滤器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析