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X荧光镀层测厚仪是如何进行工作的?该仪器具有哪些?
发布时间:2018-05-10浏览次数:2012返回列表
X荧光镀层测厚仪是通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道,一个K轨道上的电子已事先被游离,另一个电子即代替他的地位,此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射,而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射,此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%,而Lβ辐射能量较Lα大约20%,所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
X荧光镀层测厚仪的:
1、无损、、快速测量各种电镀层的厚度
2、电镀层可以是单层/双层/三层
3、镀金/镀银/镀镍/镀铜等都可以测量
4、有电镀液成份分析以及金属成份分析等软件
5、易操作/易维护
6、准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制