天瑞镀层测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度；定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；高分辨率探头使分析结果更加；良好的射线屏蔽作用。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。天瑞镀层测厚仪测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。以下内容分析影响天瑞镀层测厚仪测试的主要因素：
1、测头压力：测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
2、磁场：周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
3、试件的变形：测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
4、附着物质：天瑞镀层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
5、测头的取向：测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
6、基体金属磁性质：磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
7、基体金属电性质：基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
8、曲率：试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
9、表面粗糙度：基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。
10、基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
11、边缘效应：天瑞镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。