EDX镀层测厚仪完全可以满足镀件RoHS测试需求。镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。使用EDX镀层测厚仪时，以下几点不可忽视:
一、被测物零界厚度的控制
电镀镀层测厚仪在测量厚度时候，是有测试范围的，并不是对所有的样板都能实现测量，凡是被测物的厚度一定不能超过零界厚度，要知道一旦超过零界值，不仅实现不了厚度的测量，同时还有可能对PCB镀层厚度分析仪造成一定程度上的破坏。
二、选对测量方式
电镀镀层测厚仪方式有种形式，比如X射线、磁性、电解以及涡流等等，每一种测量方式都有对应性，测试属性是有一定差异性的，对此用户在使用设备进行测试之前，一定要选好合理的测量方式，避免有测量方式没有选对而影响zui终测量数据的不性。
三、曲率控制
电镀镀层测厚仪在材料样件测量中，特别是摆放样件时，对曲率的控制一定不能忽视，曲率控制不到位直接导致的结果就是测量范围不，上下浮动比较大，在这一点上电镀镀层测厚仪使用者要明白曲率不在控制范围内，一般情况下是样件弯曲程度出现问题，从而使得测量值不可靠。
四、测试方向的设定
为保证测量数据的性，要将EDX镀层测厚仪的侧头和被测物的表面保持垂直，另外在被测物角度上也要做好控制，避免出现倾斜。