WDX波长色散光谱仪不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高,样品制备简单。X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分光系统，探测器系统，真空系统和气流系统等部分组成。根据分析晶体的聚焦几何条件不同,分为非聚焦反射平晶式,半聚焦反射弯晶式，全聚焦反射弯晶式，半聚焦透射弯晶式等。其原理是:试样受X射线照射后，元素的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量）的强度与浓度的比例关系，便可进行定量分析。今天，我们主要介绍WDX波长色散光谱仪样品浓度测定。

    刚制定好的标准曲线接着进行样品浓度测定时：

    1、只需在concentration mode对话框按analyse sample键，进入样品测定窗口。

    2 、按设定的样品顺序放入各样品管，每次按提示进行操作。

    3、屏幕上出现结果窗口，结果数据将依次显示在样品表中的相应位置。

    （1）利用原有的标准曲线接着进行样品浓度测定时

    （2）调出所测定样品的浓度方法文件，先调出refs页，将原设edit mode选项取消，改设左上角的using exiting calibration。重新将方法存盘，则今后再调用时即不需再作修改。

    （3）在sample页中按要求重设各种样品名称机样品信息。

    （4）按工具条中setup键，将主机设到该方法所设定的条件。

    （5）将参比溶液放入比色室，按autozero键做背景校零。

    （6）按start键，按设定的样品顺序放入各样品管，每次按提示进行操作。

    （7）屏幕上出现结果窗口，结果数据将依次显示在样品表中相应位置。