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天瑞仪器镀层测厚仪与涂层测厚仪在测量方法上有何不同?

发布时间:2017-08-24 阅读:275

    天瑞仪器镀层测厚仪与涂层测厚仪不仅在工作原理上、功能特点上具有一定的区别,同时在测量方法上也具有一定的区别,下面内容进行介绍。
    天瑞仪器镀层测厚仪的测量方法:镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
    涂层测厚仪的测量方法:测量方法主要有磁性测厚法、涡流测厚法、超声波测厚法、电解测厚法、放射测厚法等等,不同的测量方法都有不同的测量特点。
    磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。这种方法测量精度高。
    涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。
    超声波测厚法:目前还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。
    电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。
    放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。


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