江苏天瑞仪器股份有限公司致力于X射线荧光光谱法元素分析仪的研发、生产与销售。X射线荧光光谱法元素分析仪样品处理简单，并且可以快速获得检测结果。是一种用于金属部件材料可靠性鉴别(PMI)以确认所用金属或合号是否正确无误的简便的仪器。使用X射线荧光光谱法元素分析仪时须注意这三个方面：

一、材料成分
分析仪能够定量分析元素周期表上从镁到重元素等超过90%的元素，覆盖了常用商品合金所含有的大多数元素。分析仪能够对铝合金、不锈钢、铬钼合金、金属管道和法兰材料，黄铜、青铜以及其他铜合金，金属焊料、钛合金、工具钢、镍基或钴基等“超级合金”进行材料牌号匹配和元素定量分析。
分析仪无法直接测量比镁轻的元素。其中包括诸如锂、铍和碳等元素。这些元素与很多应用有关，比如：
某些航天用锂合金中的锂
某些铜合金中的铍
许多低合金钢中的碳
但许多此类合金的牌号仍然可以根据其他合金元素的组分进行鉴别。如果需要定量分析这些轻元素，那就需要使用其他分析方法了。

二、试样条件
分析仪的工作原理可以概述如下：
(1) 发射X射线，激发样品产生荧光; 
(2) 探测器接收X射线荧光; 
(3) 利用复杂的运算对数据进行处理; 
(4) 牌号识别。对于诸如铝制类的轻合金，分析仪只能对试样表面深度几百微米进行测量。对于铸铁或铜等主要金属，分析仪对试样的测量深度小于一百微米。而对于金或铅等致密材料，其仅能测量表面的数十微米。这就意味着材料表面准确体现总体成分这一点非常关键。诸如油漆、密封材料和镀层以及表面污染等可能会对分析造成大影响。与此类似，喷砂或抛丸、研磨、甚至粉尘的残留物均可能影响材料可靠性鉴别。因此在使用分析仪进行检测之前务必对试样进行清洁。
分析仪采用低功率X射线管。由于发射和接收的X射线功率较低，将分析仪贴近试样就非常重要。理想情况下，试样应当与仪器窗口面直接接触。如果试样具有复杂的几何形状那么就会存在很大难度，但分析仪的狭窄轮廓外形能够让仪器充分贴近诸如以90度角的卷边焊缝材料。

三、试样表面温度
分析仪的X射线物理特性基本上不会受试样温度变化的影响。此外，分析仪性能可靠，不会受到环境条件变化的影响。该仪器在-10°C和50°C(14–122°F)2之间的工作温度范围使用时不会发生温度漂移或性能降低。分析仪可测量高温度可达100°C (212°F)的试样。高于上述温度时，仪器检测窗上的聚丙烯薄膜可能会受到损坏。