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XRF 2000韩国Micro Pioneer X射线镀层测厚仪/膜厚仪

仪高南仪器(深圳)有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:广东 深圳市

型号:

更新时间:2011-07-27

浏览次数:1699

公司地址:深圳市福田区福田南路7号皇城广场502-503室

龙定国(先生)  

产品简介

如需更详细资料或报价请资询:龙定国 15989522114Tel: 86-755-82444742Fax:

公司简介

  我公司是一精密测试仪器代理商,为香港仪高集团附属成员。我集团在中国和香港地区独家代理美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下是我集团的其他主要产品:

  新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪

  韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪

  美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪

  日本KYORITSU WAK-水质离子测试包

  美国WALCHEM(禾威)电镀药液自动添加系统

  美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪

  美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪

  美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品

  英国JENWAY分光光度计

  美国Kocour库仑测厚仪、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等

  德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品

  美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪(手提式:XRF 6500,台式:Ray-tek1800)

  美国ECI电镀药液分析系统

  美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温湿度记录仪

  日本SHIMADZU(岛津)分光光度计、X射线荧光分析仪

  日本IWAKI工业用泵

  韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪

  美国SPELLMAN 高压电源供应器

  日本KETT磁感/涡流涂层测试仪

  俄罗斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪

  美国RPS可焊性测试仪

  美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪

  美国EXTECH多用途万用表

  美亚板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪

  多年来,我们一直致力于为PCB厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意,为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!

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产品说明

如需更详细资料或报价请资询:
龙定国
Tel: 86br />Fax: 86br />Mail:
@163.com
Q Q: 32174454
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Web: www.eastco-hk.com

韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪产品介绍X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。 XRF-2000 系列分为以下三种:
1. H-Type :
密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。
2. L-Type :
密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。
3. PCB-Type :
开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测
应用 :
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )
行业 :
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色 :
非破坏,非接触式检测分析,快速精準。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告
全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差
独特2D3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。 单位选择: mils uin mm um
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的优势。
仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合 ISO 3497 ASTM B568 DIN 50987 韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;电镀溶液分析;定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net) 可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm
本页产品地址:http://www.yi7.com/sell/show-160462.html
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