LA-S 植物根系分析仪系统

LA-S型植物根系分析仪系统   植物根系分析仪  植物分析仪

LA-S型植物根系分析仪系统
LA-S型植物根系分析仪系统 至少具备以下功能：
1、植物根系可自动分析测量：
1)根总长；
2)根平均直径；
3)根总面积；
4)根总体积；
5)根尖计数；
6)分叉计数；
7)交叠计数；
8)根直径等级分布参数；
9)可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；
10)根尖段长度分布(即：根尖到其第1个分叉的长度)；
11)能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；
12)能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；
13)可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改)；
14)能进行根的分叉裁剪修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%；
15)匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量；
16)采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。

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2、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。
3、统计效果监视：监视和修正植物对象分析的精度。
4、自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。
5、辅助测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
6、分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用。
LA-S型植物根系分析仪系统 标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，zui大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm)，扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的zui小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定，可软件部分校正)：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。测量总时间：30~60秒。用户需另配计算机。
若需大幅面分析，请选配：光学分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9800XL扫描仪。
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