SE400adv 光谱椭偏仪

光谱椭偏仪 产品型号：SE400adv 简要描述：高性能椭偏仪，针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置，拥有业内zui高测量度。技术参数 ■ 膜

北京羲和阳光科技发展有限公司是一家新能源科技公司，致力于太阳能光伏产业。提供光伏生产所用硅料的分选、检验、检测设备及相关设备配件，帮助您识别高质量的硅料，减少采购或销售的风险。
        
    我公司经营的主要产品有：硅料分选测试仪（电阻率，PN型识别）、电阻测试仪、排重掺测试仪、少子寿命测试仪、测厚仪、碳氧磷硼含量测试仪，表面线痕测试仪，光谱椭偏仪，透过率测试仪、相关产品配件，以及镓掺杂剂、母合金掺杂剂，异丙醇，双氧水等耗材。

    羲和的名称来源于中国的太阳神羲和女神，作为太阳能光伏产业的一份子，为提高太阳能电池生产过程的可控性，最大限度的减少过程风险，羲和科技在不懈追求、积极探索，我们深感肩头的重任，我们会倍加努力，持之以恒，给您提供最优质的产品、最优惠的价格和最满意的服务。

光谱椭偏仪
产品型号：SE400adv
简要描述：高性能椭偏仪，针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置，拥有业内zui高测量精确度。






技术参数
■ 膜厚范围：0-30000nm
■ 折射指数：± 0.0001
■ 厚度准确度：± 0.01nm
■ 入射角度：20 - 90°
■ 波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选）
■ Psi=±0.01°，Delta=±0.02°



特点
■ 光谱范围：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可选扩展光谱范围NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范围(190 - 1100 nm) ；

■ 自动旋转起偏器可精确测量任意偏振状态；

■ 步进扫描分析仪可高速采集低噪音信号；

■ 可变角度范围：from 10-90°，可升级为自动变角度10-90°控制 ；

■ 单层薄膜/多层薄膜快速薄膜厚度、折射率测量；

■ 专业测试软件可大范围Psi和Delta数据自动测量，并对测试数据进行采集和分析，内置几百种材料数据库；

■ 可扩展二维自动扫描平台，实现(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping测量功能以及3D分析；


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