CIT-3000SMD(A) X荧光分析仪

X荧光分析仪 型号：CIT-3000SMD(A)

一、应用领域该仪器是专门为黑色冶金、矿山样品分析行业打造的一款针对性强的分析仪器，对原矿、精矿、尾矿、烧结矿、球团矿、炉渣、生铁、石灰石等许多样品可进行多元素快速检测。
二、性能特点：♦样品平台自动升降，工作十分方便；
♦样品盘自动旋转，测量面积更大，并能zui大限度的消除颗粒误差和不均匀误差；
♦抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于金属测量以及其他轻元素测量；
♦的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性；
♦采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率；
♦更的 Superfast SDD 电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。

三、仪器技术指标(1)测量范围：1-40kev；
(2)可分析元素范围：Na-U；
(3)分析含量范围：1ppm-99.99%；
(4)分辨率：优于127Ev；
(5)zui低检出限：Pb≤5ppm；
(6)工作环境温度：0-40摄氏度；
(7)工作环境相对湿度：≤80% （不结露）
(8)测量时间：10-2550s(时间可调）
(9)输入电源：AC 220V ±10%，50HZ；
(10)额定功率：300W；
(11)探测器类型：更的 Superfast SDD 探测器；
(12)500万像素的CDD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分；
(13)仪器尺寸：600(W) *570(D) *570(H)mm
(14)样品腔尺寸：样品腔：300*300*100 mm
(15)重量：约100Kg
X荧光分析仪

X荧光分析仪