产品简介
ITM-52系列是手持式 充電池供電的測厚儀。附有温度補償功能的測量PCB穿孔內鍍銅厚度之測厚儀,不受表面溫度影響,其所測出來的數據
公司简介
深圳市创思达科技有限公司是一家以销售实验室品质检测仪器为主营业务,专业从事电子电路行业的测试仪器、试验设备及辅助材料销售的企业。主要销售产品:X射线测厚仪、膜厚仪、金属镀层测厚仪、XRF-2000、镀层标准片、膜厚标准片、UPA、孔内镀铜测厚仪、PTH孔铜测厚仪、milum、mm610、铜箔测厚仪、mm125、面铜测厚仪、mm615、mm805、美国禾威Walchem控制器、镀铜/蚀铜控制器、沉铜控制器、WCU410-5N2N、化镍控制器、WNI410-5N1N、PH/ORP控制器、WPH410-5N1N、电导率控制器、WEC410-5NPN、铜箔剥离强度测试仪、凝胶固化时间测试仪、板厚测量仪、树脂流动性测试系统、Iwaki、计量泵
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产品说明
ITM-52系列是手持式 充電池供電的測厚儀。附有温度補償功能的測量PCB穿孔內鍍銅厚度之測厚儀,不受表面溫度影響,其所測出來的數據極為精確且穩定性高。
它能於蝕刻前、後,測量PCB穿孔內鍍層厚度。獨特的設計使其能够完全勝任對雙層或多層電路板的測量,甚至可以穿透錫 Sn 和錫/鉛 Sn/Pb 抗蝕層進行測量。系列獨有的温度補償特性使其適用於在電鍍過程中進行厚度測量,進而降低廢料、重工成本。
技术参数:
zui大可測量板:不限
薄可測量板:1.0mm 40 mil
測量孔径范围:Æ 0.45mm 18 mil -Æ 2.0mm 80 mil
孔壁Cu厚度測量範圍:2.5 - 100um 0.1 - 4 mil
孔徑測量範圍:
EP-30探針:0.8 - 2.0mm 32 - 80 mil
EP-25探針:0.6 - 0.8mm 24 - 32 mil
EP-20探針:0.45 - 0.6 mm 18 - 24 mil
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