、 本公司少子寿命测试仪产品防伪码

　　敬告用户：近市场上出现假冒伪劣或山寨我司的产品，部分冒牌的仪器上甚至冒用我司，请各大用户注意。如果用户是通过中间商购买我司产品的，来电我司咨询此中间商是否为我司授权的经销商，已购买仪器的用户可来电我司进行核实。对于相关公司冒牌我司产品带来侵犯我司名称、商标、知识产权的产品，我司将追究其违法、违规相关的经济和法津责任

　　第二、 少子寿命测试仪一款经济实用

　　少子寿命测试仪一款经济实用的硅晶片少子寿命测量仪器，控制装置既适用于研究也适用于。采用准稳态光电导(QSSPC) 测量方法测量，此方法是测量硅片，掺杂物扩散，和少子寿命的佳方法。

　　该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。仪器灵敏度高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

　　第三、少子寿命测试仪产品参数

　　1.测试单晶电阻率范围：>2Ω.cm。

　　2.可测单晶少子寿命范围：5μS-7000μS。

　　3.配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm。