微克仪器开发出顶针探针荷重阻抗试验机

2018年上半年，微克检测设备限公司结合市场上客户需要，开发出探针顶针荷重阻抗行程试验机。目前的实体经济由于用人成本的增加，加上人员难招难管理，已经开始慢慢向自动化或半自动化方向发展。自动化的程度提高，在检测方面会使用到大量的顶针探针以测试电子设备的一些性能指标。所以对顶针探针的一些测试指标就有所要求。

顶针探针是通过自身的弹性接触面以及力度来保证与电子产品的有效接触。弹力太小或太大、接触电阻太大、行程不符合要求都会对测试产生影响。所以就需要对此些数据进行检测，甚至于进行全检。探针目前大致分类情况如下：

探针根据电子测试用途可分为：A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，大部分的探针产品均可替代进口产品；B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，生产厂商积参与研发，但只有一小部分成功生产。

综上述，小小的探针但技术要求是挺高的。目前我司与诸多客户有合作，交付探针荷重阻抗行程试验机。可以测试探针的荷重-行程-电阻数据。同时还可以做寿命测试。有需要可以联系我们。此种机器在硬件上面还是有诸多要求，因为接触电阻小，我们需要尽可能减少治具产生的阻抗误差。

若需要探针阻抗弹力行程试验机资料，可以联系我们！