LW-302N 耳机充电盒翻盖寿命试验机

耳机充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒等产品开合寿命测试，充电盒开合寿命试验机采用触摸屏控制，在一定角度、次数、速度模拟产品开合寿命测试。...

翻盖寿命机开发目的

 蓝牙耳机是目前市场上比较流行的一种电子产品，深受消费者青睐。相比带线的耳机，方便了许多。其蓝牙充电盒起着保护放置耳机同时又有充电功能，其使用比较频繁。所以蓝牙耳机充电盒的翻盖寿命就比较重要了。市场上就出现了此款寿命试验机

设备简介：

耳机充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒等产品开合寿命测试，充电盒开合寿命试验机采用触摸屏控制，在一定角度、次数、速度模拟产品开合寿命测试。

技术参数：

1、测试工位：三工位（联动测试）

2、试验角度：0-180度（触摸屏可设且显示）

3、测试速度：5-50次/分钟（触摸屏可设且实时显示）

4、翻盖次数：0-99999999次（可预设且断电记忆功能）

5、摆臂长度：0-100mm（可调节）

6、测试台面高度：0-80mm（可调节）

7、固定治具：可调式

8、测试动作：打开翻盖＋闭合关闭

9、控制系统：触摸屏＋PLC

10、驱动系统：步进电机＋减速系统

12、机台尺寸（L×W×H）：约550×400×600mm

13、工作电源：AC220V、50Hz

耳机充电盒翻盖寿命试验机特点：

1、耳机充电盒寿命试验机采用静电烤漆处理，整机设计合理，结构紧固，运行安全、稳定，符合测试要求;

2、角度、次数、速度等参数触摸屏设置且显示，操作简单、方便、快捷;

3、步进电机驱动摆臂，实现开盖动作，气缸驱动，实现合盖动作，真实模拟产品实际使用。

具体耳机充电盒翻盖寿命试验机开发目的可以咨询苏州市联往检测设备。

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