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X荧光分析仪

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  • 更新日期:2018-07-17 10:41
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详细介绍

X荧光分析仪型号:CIT-3000SMD(A)

一、应用领域该仪器是专门为黑色冶金、矿山样品分析行业打造的一款针对性强的分析仪器,对原矿、精矿、尾矿、烧结矿、球团矿、炉渣、生铁、石灰石等许多样品可进行多元素快速检测。 
二、性能特点:
♦样品平台自动升降,工作十分方便; 
♦样品盘自动旋转,测量面积更大,并能zui大限度的消除颗粒误差和不均匀误差; 
♦抽真空测量,可以更大限度的提高测量元素的检测限,有利于金属测量以及其他轻元素测量; 
♦的模块化设计理念,保证了仪器后续的高扩展性; 
♦采用低功率X光管端窗前直径更大,对样品具有更好的激发效率; 
♦更的 Superfast SDD 电制冷半导体探测器,分辨率和计数率更高,有利于要求更高或更复杂的样品分析。 

三、仪器技术指标(1)测量范围:1-40kev; 
(2)可分析元素范围:Na-U; 
(3)分析含量范围:1ppm-99.99%; 
(4)分辨率:优于127Ev; 
(5)zui低检出限:Pb≤5ppm; 
(6)工作环境温度:0-40摄氏度; 
(7)工作环境相对湿度:≤80% (不结露) 
(8)测量时间:10-2550s(时间可调) 
(9)输入电源:AC 220V ±10%,50HZ; 
(10)额定功率:300W; 
(11)探测器类型:更的 Superfast SDD 探测器; 
(12)500万像素的CDD摄像头,可有效的实现观察测试区域状况,并拍下物料照片,可作为检测报告的组成部分; 
(13)仪器尺寸:600(W) *570(D) *570(H)mm 
(14)样品腔尺寸:样品腔:300*300*100 mm 
(15)重量:约100Kg


 
 
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