HTRS-1000型高温半导体材料电阻率测试仪

HTRS-1000型高温半导体材料电阻率测试仪

       HTRS-1000型高温半导体材料电阻率测试仪主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaAsAl、GaAsP，固溶体半导体，如Ge-Si、GaAs-GaP等的块体材料的电阻率测量等材料的电阻率测量。

一、产品特点 

1、设备集成度高，一体化设计测量。

2、1000度的高温炉膛，耐高温、抗氧化的测试夹具，测量无误

3、铂铱合金材料测试探头，抗氧化，经久耐用。

4、控温精度达到±0.5℃，温度、时间曲线直观

5、常温、高温、真空、流动气氛等多种试验环境

6、各种样品均可测试：单样品块体测量夹具，针对圆片、方块、长条等样品

7、自动保压，防止击穿