BWGP-2000型变温光谱测试系统（高低温光谱系统）

  BWGP-2000型变温光谱测试系统（高低温光谱系统）

      BWGP-2000变温光谱测试系统可以测试样品在低温和高温下光谱发射的变化情况，该仪器配置不同系能得光谱可以用于透射、反射、吸收光谱是样品谱与参比谱的比值，会降低原始光谱的信噪比，因此需要光谱仪具有较高的信噪比；同时为了获取多信息，需要光谱仪具有宽泛的光谱范围。而荧光强度较弱，属于弱光信号，为了探测荧光光谱，一般需要高灵敏度的光谱仪。需要对微米尺度的光谱信号进行采集，这需要光谱仪具有微弱光信号的检测能力。BWGP-2000是一款适合多种科研应用的光谱仪。

一、产品主要用途：

1、 用于高低温下半导体发光波长在线检测

2、 用于高低温下手机面板透过率检测

3、 用于高低温下实验室微区样品透反射率检测

4、 用于高低温下薄膜透过率检测其他化合物检测

5、 用于高低温下纳米复合材料上转换荧光中的应用

6、 用于高低温下测试物体的颜色检测

7、 用于高低温下黑硅光电探测器研究中的应用

8、 用于高低温下液晶显示研究中的应用

二、产品主要特点：

1、 高低温测试系统可以任意设置温度

2、 电脑软件自动显示温度和光谱图

3、可以灵活搭配不同类型的光谱仪

二、主要技术参数：

1、温度：-150℃-600℃

2、探测范围：200~1100nm

3、波长分辨率：0.7 nm

4、光学分辨率： 0.12nm (FWHM)

5、探测器： Hamamatsu，S10420 背照式

6、动态范围： 6,000:1

7、信噪比： 800:1 (饱和时)

8、杂散光： < 0.1% @ 600nm

9、光纤接口： SMA905

10、数据传输： USB-B，支持 USB2.0 通讯协议，480Mbps 传输速度

11、外部触发： 4 种触发模式

12、测温精度：0.1℃

13、外形尺寸：L360mm*W370mm*H510mm

14、净    重：22KG