2009年，JEOL推出了zui高加速电压200kV的球差校正透射电镜JEM-ARM200F,在全大获成功，把人类认识微观的能力向前推进了一大步。在今年的5月7日，日本电子株式会社（JEOL）同步发布了终分辨率的新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F,把商业化的透射电镜推向了一个新限。
随着球差校正透射电镜在全的普及和市场需求的不断变化，JEOL总结了JEM-ARM200F的成功经验，并开发出了自己的12球差校正器，加装在新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F上。不但大幅度提高分辨率，而且对样品的分析能力、原位观察能力、球差校正的操作方便性等都有飞跃性的提升。
JEM-ARM300F标配日本电子的12球差校正器、高亮度冷场发射电子枪，TEM的保证分辨率为0.05nm, STEM HAADF的保证分辨率为0.063nm。
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