产品简介
特性阻抗测试是采用时域反射技术设计的特性阻抗测试系统,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗,并提供测试波
产品说明
特性阻抗测试是采用时域反射技术设计的特性阻抗测试系统,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗,并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 特性阻抗测试仪功能概述: 1) 批量化、自动化测试,操作简单、测试快捷,适合PCB工厂快速测试 2) Windows操作环境,友好的人机界面,自动出具测试结果 3) 提供单端和差分阻抗测试 4) 支持2通道、4通道及8通道测试 5) 快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能 6) 集成测试文件编辑器,快速设置测试参数 7) 自动记录测试数据,生成报表并保存在磁盘上 8) 显示测试波形、统计数据分析及测试结果 9) 打印测试报表、波形及测试结果 10) 符合IPC-TM-650和IPC2141标准 PCB特性阻抗测试仪技术参数 控制阻抗测试范围 20-150Ω 测量精度 50Ω±1% 测量长度 zui大2m,zui小达到0.09m 垂直显示分辨率 0.05Ω 测试方法 时域反射法(TDR)
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