XTY6102201 X荧光分析仪

　　对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全所有的确认。如我国质量监督检验检疫总局近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。
　　X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到zui高的激发效率、的计数率和zui高的峰背比，从而有高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm×350 mm×125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。
　　凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。

特点：
1. 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。
2. 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。
3. 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到zui高的激发效率和的计数率。。
4. 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到的计数率和zui高的峰背比，从而有高的精度和很小的检出限。
5. 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。
6. 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。
7. 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。
8. 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。
9. 采用内标方法及具有知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。
10. 样品室体积大，能测量大件物品。
11. 价格功能比低，适合我国国情。
12. 设计对屏蔽防护，无三废公害，射线防护安全可靠。

主要技术指标
1. 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。
2. 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。
3. 系统分析时间： 300s (典型值)。
4. 分析精度：理想状态下，测量精度为2～3ppm；
　　　　　　　一般状态下，测量相对误差为10%。
5. 检出限： ≤2 ppm。
6. X射线光管： 高压：≤50kV， 电流：≤1mA，均连续可调。
7. 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。
8. 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：≤155 eV。
9. 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。
10. 样品室体积： 长×宽×高：480 mm×350 mm×125mm。
11. 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度≤80%(25℃)，供电电源：220±20V，50Hz。
12. 整机功耗： ≤150W。
13. 尺寸与重量： 长×宽×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。