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HAD-FD-OE-3 固体介质折射率测定仪

北京恒奥德仪器仪表有限公司
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价格:电议

所在地:北京

型号:HAD-FD-OE-3

手机:15010245973

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更新时间:2023-10-20

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公司地址:北京市海淀区

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产品简介

固体介质折射率测定仪 型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型

公司简介

公司主营不锈钢采水器,罐底焊缝真空检测盒,八级空气微生物采样器,涂层测厚仪,土壤粉碎机,腐蚀率仪,凝固点测试仪,水质检测仪,涂层测厚仪,涂层测厚仪,土壤粉碎机,数显式温度计,气体采样泵,水质检测仪,PM2.5测试仪,牛奶体细胞检测仪,氦气浓度检测仪,土壤水分电导率测试仪,场强仪,毛细吸水时间测定仪,氧化还原电位计 测振仪,一氧化碳二氧化碳检测仪,黏泥含量测试仪,自动电位滴定仪,便携式测温仪,干簧管测试仪,电导率仪,水质分析仪,土壤氧化还原电位计,数字测温仪,便携式总磷测试仪,腐蚀率仪,余氯检测仪,颗粒强度测试仪,高斯计,自动涂膜机,雨量计,四合一气体分析仪,溶解氧仪,薄层铺板器,温度记录仪,动觉方位仪,菌落计数器,雨量计,毛细吸水时间测定仪,污泥比组测试仪,大气采样器,流速仪,体积电阻率测试仪,照度计,涂布机,老化仪。
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产品说明


固体介质折射率测定仪 型号;HAD-FD-OE-3

折射率是反映介质光学性质的重要参数之。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点:

  1.采用强度铝合金材料制成,表面经阳氧化处理 ,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。

  2.带有刻度的转盘经心设计和加,转动轻巧灵活,读数。

  3.采用数字式光率计测量偏振光光强,测量结果稳定。

  4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同实验室各组实验互不干扰。

  应用本仪器可以成以下实验:

  1. 光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。

  2. 用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。

  3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。

折射率仪器主要术参数:

  1. 半导体激光器 波长650nm,率 1.5-2.0mW,作电压3V。

  2. 转盘 直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。

  3.水平光学转台 可 0-360゜转动,分度值 1°。

  4.数字式光率计 量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示


北京恒奥德仪器仪表有限公司

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