活性碳比表面分析仪 活性碳比表面测试仪 活性碳比表面分析仪

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 金埃康科技（武汉）有限公司是北京金埃谱科技有限公司的武汉分公司，专注于高新技术类产品研发及生产，也是国内比表面及孔径分析仪器行业最具影响力的集科研、生产、销售为一体的仪器生产企业。公司起源和服务于中国兵器系统，长期致力于科学分析仪器的研究与发展。
        秉承兵器行业高标准、严要求的技术宗旨，倡导和坚持“技术为先，服务为本”是我们的发展理念，紧随国际仪器技术发展潮流、坚持自动化与智能化相结合是我们的发展方向，创立国内自主研发尖端品牌是我们的发展目标，为我国科研机构及生产企业提供与国际标准和品质接轨的，具有高精度、高可靠性及高性价比的一流科研设备是我们的服务宗旨。
        总公司金埃谱科技是国内率先推出集完全自动化、智能化、高精度、高稳定性及高性价比于一体的比表面及孔径分析设备供应商，相继推出的F-Sorb X400（动态法）及V-Sorb X800 Series（静态法）两大系列产品，不仅完全遵循国家标准及国际标准，而且创建了国内最为齐全、完善的比表面及孔径分析仪产品线，可满足不同层次用户的需求。公司拥有国内众多著名科研院校及世界500强企业的成功应用案例，2008年、2009年、2010年和2011年连续四年国内市场销售量遥遥领先。
        分公司位于武汉著名的东湖高新技术开发区—武大科技园，依托于地缘优势及背景优势，公司拥有深谙业内需求、了解国际先进技术的跨行业技术专家及研发团队，为公司进一步领跑于比表面及孔径分析仪行业奠定了坚实的基础。
        公司已通过ISO9001质量管理体系认证，拥有严格的产品质量保证和完善的售后服务体系，高品质的仪器、全面的售前咨询、优质售后的服务，是您选择金埃康科技的动力之源。

金埃谱科技是比表面分析仪,比表面积仪,比表面积测试仪,比表面积分析仪,比表面积测定仪,孔径分析仪,孔隙率测定仪,比表面积和微孔分析仪,孔径分布测试仪,比表面及孔隙度分析仪国产实现真正完全自动化智能化测试技术的开拓者和者,多项独特技术已成为业内厂商仿效典范 

活性碳比表面分析仪应用领域:吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正活性物质,负活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白粉,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭(粉煤灰),水泥(矿渣粉),储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,土壤,黏土,石油断裂剂,发光稀土粉末材料(荧光粉),粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.

活性碳比表面分析仪性能参数
测试方法：111氮吸附连续流动法测试分析，BJH总孔体积，总孔面积及孔径（孔隙度）分布分析测试，直接对比法比表面积分析测定，BET比表面积（多点及单点）分析测定，Langmuir比表面积分析测试，炭黑外比表面积分析测定，样品吸附常数C测定
测量范围：0.01(m²/g)-至无上限(比表面积)；2nm-200nm 孔径（孔隙度）分布
测试精度：测量重复性误差≤2%
流量调节：金埃谱F-Sorb型微型步进电机流量自动调节系统，实现BET测试时各P/P0点流量按需调节，流量值由软件自动采集，并可在软件测试界面中实时显示；
定量标定：软件控制F-Sorb型定量管自动进行定量气体脱附，实现样品脱附峰面积自动标定，无 需人工手动转换气路；
管路密封：采用高真空系统不锈钢管路，高密封性能，有效防止气体分子渗透导致的比表面积测试误差；同时不锈钢管不存在老化问题，大大提高可靠性和寿命；
样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等，比表面积分析测定适用范围同F-Sorb 2400，孔径（孔隙度）分析测试适用于中孔范围
样品数量：可同时进行4个样品的比表面积及孔径（孔隙度）分析测试，样品测试系统和样品处理系统相互,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命
测试气体：载气为高纯He气（99.99%），吸附质为高纯N_²（99.99%）或其它（按需选择如Ar，Kr）
测试时间：每样品每 P/P0点吸附和脱附平均时间为5分钟，比表面积及孔径（孔隙度）结果自动由软件实时得出
测试压力：常压下进行，无需抽真空，有利于快速的比表面积及孔径（孔隙度）分析测试
数据采集：及高集成度数据采集及处理芯片，误差小，抗干扰能力强，有利于提高比表面积及孔径（孔隙度）分析测定结果精度
数据处理：Windows兼容数据处理软件，功能完善，操作简单，多种模式数据分析，图形化比表面积及孔径（孔隙度）分析测试数据结果报表
控制系统：采用的控制技术，集中的多功能控制系统，实现测试过程的完全自动化，智能化，大大提高比表面积及孔径（孔隙度）分析测定效率


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